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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications Greg Haugstad
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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Greg Haugstad
This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM).
488 pages, Illustrations
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 16 de octubre de 2012 |
| ISBN13 | 9780470638828 |
| Editores | John Wiley & Sons Inc |
| Páginas | 528 |
| Dimensiones | 163 × 244 × 31 mm · 794 g |
| Lengua | Inglés |
