Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials - Choong-Un Kim - Libros - Elsevier Science & Technology - 9780081016961 - 11 de septiembre de 2011
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Choong-Un Kim
Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

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352 pages

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 11 de septiembre de 2011
Fecha de lanzamiento original 2016
ISBN13 9780081016961
Editores Elsevier Science & Technology
Páginas 352
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   494 g
Editor Kim, Choong-Un (University of Texas at Arlington, USA)

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