Advances in Imaging and Electron Physics: Optics of Charged Particle Analyzers - Peter W. Hawkes - Libros - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780123813145 - 26 de julio de 2010
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Peter W. Hawkes
Advances in Imaging and Electron Physics: Optics of Charged Particle Analyzers 163 edition

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Features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in these domains.

248 pages, figures, charts, graphs, colour plates

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 26 de julio de 2010
ISBN13 9780123813145
Editores Elsevier Science Publishing Co Inc
Páginas 248
Dimensiones 151 × 229 × 18 mm   ·   476 g
Editor de series Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France)

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