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Rapid Reliability Assessment of VLSICs A.P. Dorey 1990 edition
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Rapid Reliability Assessment of VLSICs
A.P. Dorey
The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service.
200 pages, bibliography
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 30 de abril de 1990 |
| ISBN13 | 9780306434921 |
| Editores | Springer Science+Business Media |
| Páginas | 212 |
| Dimensiones | 150 × 220 × 20 mm · 504 g (Peso (estimado)) |
| Lengua | Inglés |