Advanced VLSI Design and Testability Issues - Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9780367492823 - 19 de agosto de 2020
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata
Advanced VLSI Design and Testability Issues 1.º edición

Precio
Mex$ 3.395
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 11 - 27 de nov.
Los regalos de Navidad se podrán canjear hasta el 31 de enero
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.

360 pages, 29 Tables, black and white; 192 Illustrations, black and white

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 19 de agosto de 2020
ISBN13 9780367492823
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 360
Dimensiones 241 × 162 × 27 mm   ·   718 g
Lengua Inglés  
Editor Mohapatra, Sushanta Kumar (Kalinga Institute of Industrial Technology, India.)
Editor Saxena, Sobhit (Lovely Professional University University, India.)
Editor Tripathi, Suman Lata (Lovely Professional University, India)

Más del mismo editor

Ver todo de Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata