Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387400907 - 28 de junio de 2006
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Adam Foster
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology And Ed. edition

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Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.

282 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 28 de junio de 2006
ISBN13 9780387400907
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 282
Dimensiones 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g

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