Applied Measurement with jMetrik - Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9780415531979 - 25 de junio de 2014
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Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Applied Measurement with jMetrik 1.º edición

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Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.

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Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 25 de junio de 2014
ISBN13 9780415531979
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 170
Dimensiones 229 × 153 × 9 mm   ·   266 g
Lengua Inglés  

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