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Applied Charged Particle Optics: Part II - Advances in Imaging and Electron Physics

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Medios de comunicación	Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado	1 de octubre de 2026
ISBN13	9780443471124
Editores	Elsevier Science Publishing Co Inc
Páginas	252
Dimensiones	150 × 220 × 20 mm · 450 g
Editor de series	Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France)
Editor de series	Hytch, Martin (Senior Scientist, French National Centre for Research (CNRS), Toulouse, France)