ESD: Failure Mechanisms and Models - Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA) - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9780470511374 - 24 de agosto de 2009
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)
ESD: Failure Mechanisms and Models

Precio
Mex$ 3.208
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 27 de oct. - 12 de nov.
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

Provides a comprehensive analysis of ESD failure mechanisms over a wide range of semiconductor materials, devices, circuits and applications. Sets out methods for eliminating failure mechanisms through workable circuit solutions, including practical examples of failure defects.

408 pages, Illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 24 de agosto de 2009
ISBN13 9780470511374
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 408
Dimensiones 253 × 176 × 29 mm   ·   820 g
Lengua Inglés  

Mas por Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

Mostrar todo

Más del mismo editor

Ver todo de Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)