ESD: Failure Mechanisms and Models - Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA) - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9780470511374 - 17 de julio de 2009
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Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)
ESD: Failure Mechanisms and Models

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Provides a comprehensive analysis of ESD failure mechanisms over a wide range of semiconductor materials, devices, circuits and applications. Sets out methods for eliminating failure mechanisms through workable circuit solutions, including practical examples of failure defects.

408 pages, Illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 17 de julio de 2009
ISBN13 9780470511374
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 408
Dimensiones 253 × 176 × 29 mm   ·   820 g
Lengua Inglés  

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