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Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy Chim, Wai Kin (National University of Singapore)
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Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy
Chim, Wai Kin (National University of Singapore)
Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.
288 pages, Illustrations
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 2 de enero de 2001 |
| Fecha de lanzamiento original | 2000 |
| ISBN13 | 9780471492405 |
| Editores | John Wiley & Sons Inc |
| Páginas | 288 |
| Dimensiones | 160 × 237 × 20 mm · 716 g |
