Electromigration and Electronic Device Degradation - A Christou - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9780471584896 - 15 de diciembre de 1993
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A Christou
Electromigration and Electronic Device Degradation

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This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details.

344 pages

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 15 de diciembre de 1993
Fecha de lanzamiento original 1994
ISBN13 9780471584896
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 343
Dimensiones 160 × 240 × 20 mm   ·   684 g
Lengua Inglés  
Editor Christou, Aris (CALCE Electronic Packaging Research Center, University of Maryland)

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