Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques - Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY) - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9780471624639 - 20 de octubre de 1987
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY)
Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Precio
Mex$ 4.682
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 3 - 19 de ago.
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY)

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students.

368 pages, Ill.

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 20 de octubre de 1987
ISBN13 9780471624639
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 368
Dimensiones 165 × 240 × 23 mm   ·   662 g

Más del mismo editor

Ver todo de Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY) ( Ej. Hardcover Book )