Atom-Probe Field Ion Microscopy: Field Ion Emission, and Surfaces and Interfaces at Atomic Resolution - Tsong, Tien T. (Pennsylvania State University) - Libros - Cambridge University Press - 9780521019934 - 15 de septiembre de 2005
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Tsong, Tien T. (Pennsylvania State University)
Atom-Probe Field Ion Microscopy: Field Ion Emission, and Surfaces and Interfaces at Atomic Resolution

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Atom-probe field ion microscopy is the only technique capable of imaging solid surfaces with atomic resolution, while chemically analysing surface atoms selected by the observer from the field ion image. This book presents the basic principles and illustrates the capabilities of the technique in the study of solid surfaces and interfaces at atomic resolution.

400 pages, black & white illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 15 de septiembre de 2005
ISBN13 9780521019934
Editores Cambridge University Press
Páginas 400
Dimensiones 157 × 234 × 22 mm   ·   556 g
Lengua Inglés  

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