Photo-induced Defects in Semiconductors - Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering - Redfield, David (Stanford University, California) - Libros - Cambridge University Press - 9780521461962 - 26 de enero de 1996
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Photo-induced Defects in Semiconductors - Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering


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This is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. These metastable defects exhibit complex interactions with the surrounding material, and can significantly affect the performance and stability of certain semiconductor devices.


240 pages, 106 b/w illus.

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 26 de enero de 1996
ISBN13 9780521461962
Editores Cambridge University Press
Páginas 230
Dimensiones 159 × 237 × 22 mm   ·   494 g
Lengua Inglés  

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