Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis - Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) - Libros - Cambridge University Press - 9780521482660 - 23 de mayo de 1996
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Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)
Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

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Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.

456 pages, 224 b/w illus. 10 tables

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 23 de mayo de 1996
ISBN13 9780521482660
Editores Cambridge University Press
Páginas 458
Dimensiones 170 × 244 × 25 mm   ·   1,10 kg
Lengua Inglés  

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