Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution - Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island) - Libros - Cambridge University Press - 9780521822817 - 8 de enero de 2004
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Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island)
Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution

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Thin film mechanical behavior and stress presents a technological challenge for materials scientists, physicists and engineers. Describing fundamental concepts with practical case studies, highly illustrated, thorough referencing and containing numerous homework problems, this book will be essential for graduate courses on thin films and the classic reference for researchers.

770 pages, 75 b/w illus. 75 exercises

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 8 de enero de 2004
ISBN13 9780521822817
Editores Cambridge University Press
Páginas 770
Dimensiones 180 × 255 × 43 mm   ·   1,64 kg   (Peso (estimado))
Lengua Inglés  

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