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Thomas Wade
Noise in Bipolar Junction Transistors at Cryogenic Temperatures. Thomas Wade

Name: Noise in Bipolar Junction Transistors at Cryogenic Temperatures.
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Author: Thomas Wade

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Noise in Bipolar Junction Transistors at Cryogenic Temperatures.

Medios de comunicación	Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado	8 de diciembre de 2019
ISBN13	9780530019499
Editores	Dissertation Discovery Company
Páginas	258
Dimensiones	150 × 220 × 20 mm · 889 g
Lengua	Inglés

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