Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy - Series in Microscopy in Materials Science - Jenkins, M.L (University of Oxford, UK) - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9780750307482 - 21 de noviembre de 2000
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Jenkins, M.L (University of Oxford, UK)
Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy - Series in Microscopy in Materials Science 1.º edición

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Details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. This book also focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops.

224 pages, references, index

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 21 de noviembre de 2000
ISBN13 9780750307482
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 234
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   540 g
Lengua Inglés  

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