Electron Microscopy and Analysis 2001 - Institute of Physics Conference Series - - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9780750308120 - 1 de diciembre de 2001
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Electron Microscopy and Analysis 2001 - Institute of Physics Conference Series 1.º edición

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Electron microscopy is a mainstay characterization tool for solid state physicists and chemists as well as materials scientists. This book presents a useful snapshot of the developments in instrumentation, analysis techniques, and applications of electron and scanning probe microscopies.

529 pages, Illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 1 de diciembre de 2001
ISBN13 9780750308120
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 529
Dimensiones 163 × 242 × 36 mm   ·   940 g
Lengua Inglés  
Editor Aindow, M. (University of Connecticut, USA)
Editor Kiely, C. J. (Department of Engineering, University of Liverpool, UK)

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