Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction - SAE International - Libros - SAE International - 9780768010695 - 28 de febrero de 2003
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SAE International
Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction

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This editorial review of J784a is based upon decades of experience in the practical application of x-ray diffraction residual stress measurement methods in thousands of individual applications. J784 is a classic document. It serves as the only recognized standard for residual stress measurement available.

96 pages

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 28 de febrero de 2003
ISBN13 9780768010695
Editores SAE International
Páginas 96
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   197 g   (Peso (estimado))

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