Testing Reliability & Appltcns of Optoelectronic: 4285 (Proceedings of Spie--the International Society for Optical Engineering, V. 4285.) - Chin - Libros - SPIE Press - 9780819439635 - 30 de junio de 2006
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Chin
Testing Reliability & Appltcns of Optoelectronic: 4285 (Proceedings of Spie--the International Society for Optical Engineering, V. 4285.)

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246 pages, illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 30 de junio de 2006
ISBN13 9780819439635
Editores SPIE Press
Páginas 246
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   546 g   (Peso (estimado))

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