Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing: II (Proceedings of SPIE) - Tobin - Libros - SPIE Press - 9780819448460 - 31 de julio de 2003
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Tobin
Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing: II (Proceedings of SPIE)

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222 pages

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 31 de julio de 2003
ISBN13 9780819448460
Editores SPIE Press
Páginas 222
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   493 g   (Peso (estimado))

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