Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics - The Cambridge RF and Microwave Engineering Series - T. Mitch Wallis - Libros - Cambridge University Press - 9781107120686 - 14 de septiembre de 2017
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T. Mitch Wallis
Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics - The Cambridge RF and Microwave Engineering Series

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Understand the fundamentals of radio frequency measurement of nanoscale devices with this practical, cross-disciplinary guide. Featuring numerous examples linking theoretical concepts with real-world applications, it is the ideal resource for researchers in both academia and industry new to the field of radio frequency nanoelectronics.

320 pages, 102 b/w illus. 4 tables

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 14 de septiembre de 2017
ISBN13 9781107120686
Editores Cambridge University Press
Páginas 328
Dimensiones 178 × 253 × 18 mm   ·   790 g
Lengua Inglés  

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