Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems - IEEE Press - Eishi H. Ibe - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9781118479292 - 13 de febrero de 2015
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Eishi H. Ibe
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems - IEEE Press 1.º edición

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This book provides the reader with knowledge on a wide variety of radiation fields and their effects on the electronic devices and systems. The author covers faults and failures in ULSI devices induced by a wide variety of radiation fields, including electrons, alpha-rays, muons, gamma rays, neutrons and heavy ions.

296 pages

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 13 de febrero de 2015
ISBN13 9781118479292
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 296
Dimensiones 175 × 249 × 20 mm   ·   599 g
Lengua Inglés  

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