Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices - Paul Van Der Heide - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9781118480489 - 15 de septiembre de 2014
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Paul Van Der Heide
Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices 1.º edición

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This book serves as a practical reference for anyone involved in any form of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). This is presented in a concise yet comprehensive manner to those wanting to know more about the technique in general as opposed to advanced sample specific procedures/applications.

384 pages, illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 15 de septiembre de 2014
ISBN13 9781118480489
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 384
Dimensiones 160 × 243 × 24 mm   ·   657 g
Lengua Inglés  

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