Characterization and Measurement of Passive and Active Metamaterial Devices - Christopher A Lundell - Libros - Biblioscholar - 9781249594987 - 9 de octubre de 2012
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Christopher A Lundell
Characterization and Measurement of Passive and Active Metamaterial Devices

Precio
Mex$ 491
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 14 de ago. - 1 de sep.
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Christopher A Lundell

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

246 pages, Illustrations, black and white

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 9 de octubre de 2012
ISBN13 9781249594987
Editores Biblioscholar
Páginas 246
Dimensiones 189 × 246 × 13 mm   ·   344 g

Ver todo de Christopher A Lundell ( Ej. Paperback Book )