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Sensitivity Analysis of Algan / Gan High Electron Mobility Transistors to Process Variation Adam J Liddle
Sensitivity Analysis of Algan / Gan High Electron Mobility Transistors to Process Variation
Adam J Liddle
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 17 de octubre de 2012 |
| ISBN13 | 9781249834250 |
| Editores | Biblioscholar |
| Páginas | 132 |
| Dimensiones | 189 × 246 × 7 mm · 249 g |
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