Temperature Dependent Current-Voltage Measurements of Neutron Irradiated Al0.27ga0.73n/Gan Modulation Doped Field Effect Transistors - Troy A Uhlman - Libros - Biblioscholar - 9781249836568 - 17 de octubre de 2012
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Troy A Uhlman
Temperature Dependent Current-Voltage Measurements of Neutron Irradiated Al0.27ga0.73n/Gan Modulation Doped Field Effect Transistors

Precio
Mex$ 1.144
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 3 - 19 de nov.
Los regalos de Navidad se podrán canjear hasta el 31 de enero
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Troy A Uhlman

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

192 pages, Illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 17 de octubre de 2012
ISBN13 9781249836568
Editores Biblioscholar
Páginas 192
Dimensiones 189 × 246 × 10 mm   ·   353 g

Ver todo de Troy A Uhlman