Reliability Prediction for Microelectronics - Quality and Reliability Engineering Series - Bernstein, Joseph B. (Ariel University, Israel) - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9781394210930 - 27 de febrero de 2024
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Bernstein, Joseph B. (Ariel University, Israel)
Reliability Prediction for Microelectronics - Quality and Reliability Engineering Series 1.º edición

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384 pages

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 27 de febrero de 2024
ISBN13 9781394210930
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 400
Dimensiones 201 × 235 × 28 mm   ·   703 g
Lengua Inglés  

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