Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing - Erik Larsson - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402032073 - 7 de noviembre de 2005
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Erik Larsson
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition

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SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling.

388 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 7 de noviembre de 2005
ISBN13 9781402032073
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 388
Dimensiones 156 × 232 × 23 mm   ·   1,09 kg
Lengua Inglés  

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