Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - Integrated Circuits and Systems - Charles Chiang - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402051876 - 26 de julio de 2007
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Charles Chiang
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - Integrated Circuits and Systems 2007 edition

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This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.

281 pages, bibliography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 26 de julio de 2007
ISBN13 9781402051876
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 255
Dimensiones 155 × 235 × 18 mm   ·   680 g
Lengua Inglés  

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