High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing - R. Dean Adams - Libros - Kluwer Academic Publishers - 9781402072550 - 30 de septiembre de 2002
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

R. Dean Adams
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing 2002 edition

Precio
Mex$ 2.737
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 3 - 13 de ago.
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de R. Dean Adams

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

También disponible como:

Memory applications and the number of designs and the sheer number of bits on each design are critical. Based on the author's experience in memory design, memory reliability development and memory self test, this book is written for professionals and researchers, helping them understand the memories that are tested.

250 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 30 de septiembre de 2002
ISBN13 9781402072550
Editores Kluwer Academic Publishers
Páginas 250
Dimensiones 156 × 234 × 15 mm   ·   562 g
Lengua Inglés  

Más del mismo editor

Ver todo de R. Dean Adams ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )