Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441909305 - 16 de noviembre de 2009
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Rajesh Garg
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

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This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.

212 pages, 28 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 16 de noviembre de 2009
ISBN13 9781441909305
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 212
Dimensiones 159 × 238 × 24 mm   ·   508 g
Lengua Inglés  

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