Digital Noise Monitoring of Defect Origin - Lecture Notes in Electrical Engineering - Telman Aliev - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441944108 - 24 de noviembre de 2010
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Telman Aliev
Digital Noise Monitoring of Defect Origin - Lecture Notes in Electrical Engineering Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

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This book explores the initial stage of the origin of the defect taking into account technical, biological, and other features of several technologies. These technologies allow the defect monitoring at the beginning of the defect origin to be performed at the expense of extracting information from the noise.

224 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 24 de noviembre de 2010
ISBN13 9781441944108
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 224
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   335 g
Lengua Inglés  

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