Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems - Amith Singhee - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441966056 - 17 de septiembre de 2010
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Amith Singhee
Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems 2010 edition

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This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs.

246 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 17 de septiembre de 2010
ISBN13 9781441966056
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Género Aspects (Academic) > Science / Technology Aspects
Páginas 246
Dimensiones 155 × 235 × 15 mm   ·   539 g
Lengua Inglés  
Editor Rutenbar, Rob A.
Editor Singhee, Amith

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