Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing - Frans P. M. Beenker - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461360049 - 4 de octubre de 2012
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Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1995 edition

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221 pages, black & white illustrations, bibliography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 4 de octubre de 2012
ISBN13 9781461360049
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 212
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   326 g
Lengua Inglés  

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