Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375616 - 12 de octubre de 2012
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Angela Krstic
Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

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In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 12 de octubre de 2012
Fecha de lanzamiento original 1998
ISBN13 9781461375616
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 191
Dimensiones 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
Lengua Inglés  

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