Quantitative X-Ray Diffractometry - Lev S. Zevin - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461395379 - 27 de diciembre de 2011
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Lev S. Zevin
Quantitative X-Ray Diffractometry Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

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One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases.

398 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 27 de diciembre de 2011
ISBN13 9781461395379
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 372
Dimensiones 170 × 244 × 20 mm   ·   630 g
Lengua Inglés  
Editor Mureinik, Inez

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