Physical Measurement and Analysis of Thin Films - Progress in Analytical Chemistry - E M Murt - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489959126 - 7 de diciembre de 2013
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Physical Measurement and Analysis of Thin Films - Progress in Analytical Chemistry Softcover reprint of the original 1st ed. 1969 edition

Precio
Mex$ 969
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 13 - 23 de jul.
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

194 pages, 99 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 7 de diciembre de 2013
ISBN13 9781489959126
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 194
Dimensiones 152 × 229 × 11 mm   ·   285 g
Lengua Inglés  
Editor Murt, E. M.

Mere med samme udgiver