High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489988478 - 20 de octubre de 2014
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Stephan Eggersgluss
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

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This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

193 pages, 52 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 20 de octubre de 2014
ISBN13 9781489988478
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 193
Dimensiones 155 × 235 × 11 mm   ·   303 g
Lengua Inglés  

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