Microelectronic Test Structures for Cmos Technology - Manjul Bhushan - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489990556 - 1 de octubre de 2014
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Microelectronic Test Structures for Cmos Technology

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Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.


373 pages, 37 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 1 de octubre de 2014
ISBN13 9781489990556
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 373
Dimensiones 155 × 235 × 21 mm   ·   566 g
Lengua Inglés  

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