Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience - Jian Min Zuo - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493966059 - 26 de octubre de 2016
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Jian Min Zuo
Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience 1st ed. 2017 edition

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As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission electron microscopy.

755 pages, 92 black & white illustrations, 218 colour illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 26 de octubre de 2016
ISBN13 9781493966059
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 729
Dimensiones 155 × 235 × 44 mm   ·   1,42 kg
Lengua Inglés  

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