ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis - ASM International - Libros - A S M International - 9781627081504 - 30 de enero de 2018
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ASM International
ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis

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The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.

660 pages

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 30 de enero de 2018
ISBN13 9781627081504
Editores A S M International
Páginas 660
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   987 g   (Peso (estimado))

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