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Automated Visual Inspection and Machine Vision - Proceedings of SPIE Jurgen Beyerer
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Automated Visual Inspection and Machine Vision - Proceedings of SPIE
Jurgen Beyerer
Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.
277 pages
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 30 de septiembre de 2015 |
| ISBN13 | 9781628416909 |
| Editores | SPIE Press |
| Páginas | 277 |
| Dimensiones | 150 × 220 × 10 mm · 525 g |
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