Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation - Deshayes, Yannick (IMS Laboratory, University of Bordeaux, Bordeaux, France) - Libros - ISTE Press Ltd - Elsevier Inc - 9781785481529 - 26 de septiembre de 2016
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation

Precio
Mex$ 2.309
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 3 - 21 de sep.
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Deshayes, Yannick (IMS Laboratory, University of Bordeaux, Bordeaux, France)
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

172 pages

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 26 de septiembre de 2016
ISBN13 9781785481529
Editores ISTE Press Ltd - Elsevier Inc
Páginas 172
Dimensiones 158 × 238 × 15 mm   ·   426 g

Más del mismo editor