Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact - Springer Series in Materials Science - Cor Claeys - Libros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030067472 - 30 de enero de 2019
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact - Springer Series in Materials Science Softcover reprint of the original 1st ed. 2018 edition


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material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.


438 pages, 207 Illustrations, color; 8 Illustrations, black and white; XXXIII, 438 p. 215 illus., 20

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 30 de enero de 2019
ISBN13 9783030067472
Editores Springer Nature Switzerland AG
Páginas 438
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   657 g
Lengua Alemán  

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