Recomienda este artículo a tus amigos:
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation Fangzhou Xia
Precio
Mex$ 1.257
sin IVA
Pedido desde almacén remoto
Entrega prevista 16 - 26 de nov.
Los regalos de Navidad se podrán canjear hasta el 31 de enero
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Fangzhou Xia
Añadir a tu lista de deseos de iMusic
También disponible como:
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Fangzhou Xia
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 7 de febrero de 2025 |
| ISBN13 | 9783031442353 |
| Editores | Springer International Publishing AG |
| Páginas | 366 |
| Dimensiones | 150 × 220 × 10 mm · 664 g |
| Lengua | Alemán |