Recent Advances in Microelectronics Reliability: Contributions from the European ECSEL JU project iRel40 -  - Libros - Springer International Publishing AG - 9783031593635 - 14 de julio de 2025
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Recent Advances in Microelectronics Reliability: Contributions from the European ECSEL JU project iRel40


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This book describes the latest progress in reliability analysis of microelectronic products. More importantly, this book tries to present methodologies and useful approaches in analyzing a failure and in relating a failure to the reliability of electronic devices.

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 14 de julio de 2025
ISBN13 9783031593635
Editores Springer International Publishing AG
Páginas 403
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   633 g
Lengua Alemán  
Editor Pressel, Klaus
Editor Soyturk, Mujdat
Editor Van Driel, Willem Dirk

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