Reliability and Yield in Nanoelectronics Manufacturing - Wei-Ting Kary Chien - Libros - Springer Nature Switzerland AG - 9783032231895 - 15 de julio de 2026
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Reliability and Yield in Nanoelectronics Manufacturing


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Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 15 de julio de 2026
ISBN13 9783032231895
Editores Springer Nature Switzerland AG
Páginas 506
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   790 g   (Peso (estimado))

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