Phase Change Memory: Device Physics, Reliability and Applications - - Libros - Springer International Publishing AG - 9783319690520 - 28 de noviembre de 2017
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Phase Change Memory: Device Physics, Reliability and Applications 1st ed. 2018 edition

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This book describes the physics of phase change memory devices, starting from basic operation to reliability issues. The book also contains design engineering details on PCM cell architecture, PCM cell arrays (including electrical circuit management), as well as the full spectrum of possible future applications.

330 pages, 40 Tables, color; 196 Illustrations, color; 24 Illustrations, black and white; XVIII, 330

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 28 de noviembre de 2017
ISBN13 9783319690520
Editores Springer International Publishing AG
Páginas 330
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   666 g
Lengua Alemán  
Editor Redaelli, Andrea

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